1.高均一性、大照射面積。
2.重さ軽く設計、高輝度。
3.ケース外形固定、荷重均一、長い時間使っても安定的に固定。
4.形状客要求にカスタム可能。
1.高均一性、大照射面積。
2.重さ軽く設計、高輝度。
3.ケース外形固定、荷重均一、長い時間使っても安定的に固定。
4.形状客要求にカスタム可能。
1.反射、凸凹面検査。
2.IC表面文字検査。
3.コンデンサ表面破損検査。
型式:LTS-3DM198-W
用途例: IC 欠陥検査
型式ルール
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LTS-3DM116-R/BGW | / | Outer dia. φ116mm,Inner dia. φ25mm,Height 52.41mm | 24V | 6.5W/11.6W |
LTS-3DM175-R/BGW | / | Outer dia. φ175mm,Inner dia. φ35mm,Height 76.93mm | 24V | 7.2W/12.0W |
LTS-3DM198-R/BGW | / | Outer dia. φ198mm,Inner dia. φ30mm,Height 88.48mm | 24V | 12.5W/21.2W |
LTS-3DM260-R/BGW | / | Outer dia. φ260mm,Inner dia. φ48mm,Height 118.98mm | 24V | 17.3W/28.8W |
* UV & IR カスタム可能。 |