1.特定の照射構造により均一照射実現。
2.高効率な低角度照射により表面特徴強化。
3.欠陥比較率高める。
4.反射及びフレア減少。
1.特定の照射構造により均一照射実現。
2.高効率な低角度照射により表面特徴強化。
3.欠陥比較率高める。
4.反射及びフレア減少。
1.BGA\QFP位置検査。
2.集積回路スケルトン検査。
3.コネクタ足距離及位置ずれ。
4.便蓋割れ検査。
型式:LTS-FPR80-W
用途例: 包装検査
型式ルール
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LTS-FPR80-R/BGW | / | Outer dia. φ80mm,Inner dia. φ64mm,Height 40mm | 24V | 1.2W/1.9W |
LTS-FPR94-R/BGW | / | Outer dia. φ94mm,Inner dia. φ16mm,Height 70mm | 24V | 5.8W/8.6W |
LTS-FPR100-R/BGW | / | Outer dia. φ100mm,Inner dia. φ45mm,Height 42mm | 24V | 2.2W/3.6W |
LTS-FPR120-R/BGW | / | Outer dia. φ120mm,Inner dia. φ94mm,Height 40mm | 24V | 3.4W/5.0W |
LTS-FPR150-R/BGW | / | Outer dia. φ150mm,Inner dia. φ80mm,Height 40mm | 24V | 11.5W/19.2W |
LTS-FPR160-R/BGW | / | Outer dia. φ160mm,Inner dia. φ133mm,Height 40mm | 24V | 4.1W/6.7W |
LTS-FPR180-R/BGW | / | Outer dia. φ180mm,Inner dia. φ153mm,Height 40mm | 24V | 5.0W/8.4W |
* UV & IR カスタム可能。 |