
1.特定の照射構造により均一照射実現。
2.高効率な低角度照射により表面特徴強化。
3.欠陥比較率高める。
4.反射及びフレア減少。
1.特定の照射構造により均一照射実現。
2.高効率な低角度照射により表面特徴強化。
3.欠陥比較率高める。
4.反射及びフレア減少。
1.BGA\QFP位置検査。
2.集積回路スケルトン検査。
3.コネクタ足距離及位置ずれ。
4.便蓋割れ検査。
型式:LTS-FPR80-W
用途例: 包装検査
型式ルール
|
|
|
|
|
LTS-FPR50-R/BGW | ![]() ![]() ![]() ![]() |
外径φ50mm,内径φ23mm,高さ40mm | 24V | 4.4W/5.4W |
LTS-FPR67-R/BGW | ![]() ![]() ![]() ![]() |
外径φ67mm,内径φ39mm,高さ40mm | 24V | 5.8W/7.2W |
LTS-FPR80-R/BGW | ![]() ![]() ![]() ![]() |
外径φ80mm,内径φ64mm,高さ40mm | 24V | 8.6W/11.5W |
LTS-FPR94-R/BGW | ![]() ![]() ![]() ![]() |
外径φ94mm,内径φ19mm,高さ70mm | 24V | 8.7W/11.1W |
LTS-FPR100-R/BGW | ![]() ![]() ![]() ![]() |
外径φ100mm,内径φ71mm,高さ42mm | 24V | 10.1W/11.6W |
LTS-FPR120-R/BGW | ![]() ![]() ![]() ![]() |
外径φ120mm,内径φ94mm,高さ40mm | 24V | 11.6W/14.4W |
LTS-FPR140-R/BGW | ![]() ![]() ![]() ![]() |
外径φ140mm,内径φ70mm,高さ40mm | 24V | 28.8W/37.5W |
LTS-FPR150-R/BGW | ![]() ![]() ![]() ![]() |
外径φ150mm,内径φ80mm,高さ40mm | 24V | 31.7W/39.9W |
LTS-FPR160-R/BGW | ![]() ![]() ![]() ![]() |
外径φ160mm,内径φ133mm,高さ40mm | 24V | 15.9W/20.2W |
LTS-FPR180-R/BGW | ![]() ![]() ![]() ![]() |
外径φ180mm,内径φ153mm,高さ40mm | 24V | 18.8W/24.5W |
LTS-FPR230-R/BGW | ![]() ![]() ![]() ![]() |
外径φ230mm,内径φ203mm,高さ40mm | 24V | 24.5W/30.3W |
* UV & IR カスタム可能。 |