1.特定の照射構造設計、規定作業距離で均一照射。
2.高効率低角度照明、表面特徴強化、欠陥コントラスト強化。
3.検査製品が均一の表面照明必要及び反射及びフレアがある場合。
1.特定の照射構造設計、規定作業距離で均一照射。
2.高効率低角度照明、表面特徴強化、欠陥コントラスト強化。
3.検査製品が均一の表面照明必要及び反射及びフレアがある場合。
1.BGA,GFP位置検査。
2.集積回路スケルトン検査。
3.集積回路脚文字検査。
4.金属表面傷検査。
照度図 均一性図 (イメージ)
型式:LTS-FPQ120120-W
用途例:脚直角ズレ検査
型式ルール
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LTS-FPQ4848-R/BGW | / | L48xW48xH30(mm) | 24V | 0.7W/1.2W |
LTS-FPQ6060-R/BGW | / | L60xW60xH30(mm) | 24V | 1.0W/1.4W |
LTS-FPQ11660-R/BGW | / | L116xW60xH28(mm) | 24V | 1.4W/2.2W |
LTS-FPQ120120-R/BGW | / | L120xW120xH42(mm) | 24V | 7.2W/10.6W |
LTS-FPQ150150-R/BGW | / | L150xW150xH42(mm) | 24V | 7.7W/11.5W |
LTS-FPQ250250-R/BGW | / | L250xW250xH42(mm) | 24V | 13.0W/19.7W |
* UV & IR カスタム可能。 |